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    [广告]电性能检测Probe测试 [复制链接]

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    离线探针台
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 09-17
    gZ79u  
    Probe测试 nKZRq&~^E  
    显微镜底下,利用探针搭接于IC内部线路,使其可以外接各类设备,以便量测或输入讯号。科技目前拥有的探针与应用相关讯息如下: Is,*qrl :  
    探针分为硬针、软针及Active Probe。硬针之针尖主要规格为1 μm及5 μm;软针之针尖为 < 1 μm,主要应用在高频电路及FIB probing PAD及Active Probe(200 MHz)。 ];wohW%  
    当分析样品需使用如EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve tracer等仪器却无无适当治具或socket可用时,可由点针方式提供讯号输入输出。 TZ[F u{gZ  
    Wafer可搭配Probe card做各项测试。 r*  
    探针Probe测试,北京探针测试公司,北京探针测试,检测
     
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