样品制样失效分析

主要用途 Y[2Wt%2\6  
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样品外观、形貌检测。 {@?G 9UypA  
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性能参数 p8Iw!HE  
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a)总放大倍数为50x-1000x； *n8%F9F  
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b)目标Z空间：0-25mm； %m9CdWb=w  
l71gf.4g  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 7c-Gm R2  
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 L'lF/qe^  
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应用范围 ;6ky5}z  
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。