样品制样失效分析

主要用途 $#3<rcOq  
MWh+h7k'  
样品外观、形貌检测。 v=1S
  
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性能参数 ~j#6 goKn  
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a)总放大倍数为50x-1000x； |o=ST  
Yka&Kkw
 
b)目标Z空间：0-25mm； [Vp2!"  
-Bv1}xf=6  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； f?zK"  
$'{`i5XB  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 VQjFEJ  
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应用范围 P3ev4DL  
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。