样品制样失效分析

主要用途 +}>whyX1  
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样品外观、形貌检测。 {.z2n>1J{T  
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性能参数 8^$}!9B~JZ  
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a)总放大倍数为50x-1000x； Q}W6?XDu  
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b)目标Z空间：0-25mm； 18Vtk"j  
>f19P+  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； 4*lS
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d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 tk<dp7y7  
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应用范围 vd SV6p.d  
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主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。