探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 tg~&kaz  
( $3j  
\n850PS  
性能参数 #VC^><)3  
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放大倍数50X，100X，200X，500X 0D>~uNcT}  
1){1 HK  
8个探针座 M[_~7~4  
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带屏蔽箱 gFJ&t^yL  
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应用范围 ,"PwNv  
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微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。