探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 mVN^X/L(y  
@54D<Lj  

~r6qnC2  
性能参数 v_PhJKE  
Rw\ LVRd
A  
放大倍数50X，100X，200X，500X Q"KD O-t  
:[oFe/1K!4  
8个探针座
'-tiH  
JB~79Lsdz  
带屏蔽箱 X|)Ox ,(  
_4VF>#b  
y|1,h}H^n  
5 iUT#  
应用范围 ,c#=qb8""  
.olDmFQD  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。