探针测试

通过微探针连接到芯片并引出所需信号，用于电学特性测试 #*j  
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tn+i5Eso  
性能参数 i*..]!7e  
i;y<gm"  
放大倍数50X，100X，200X，500X .<^dv?@  
p82&X+v/p  
8个探针座 0!o&=Qh  
7=u\D
 
带屏蔽箱 KR%p*Nh+C  
X3%7VFy9  
x&+/da-E/5  
0^*4LM|z  
应用范围 3X89mIDr  
Uc!}D  
微小连接点信号引出，用于失效分析失效确认，FIB电路修改后电学特性确认等。