I/V Curve的量测

发布:探针台 2019-07-25 14:52 阅读:1638
验证及量测半导体电子组件的电性、参数及特性。比如电压-电流。集成电路失效分析流程中,I/V Curve的量测往往是非破坏分析的第二步(外观检查排在第一步),可见Curve量测的重要性。 Ut-6!kAm  
=X X_C nn  
服务范围:封装测试厂,SMT领域等 W7A'5  
cM4?G gn  
^qbX9.\  
服务内容:1.Open/Short Test   ):78GVp  
                  2.I/V Curve Analysis gSj-~k P  
                  3.Idd Measuring ;(0:6P8I  
                  4.Powered Leakage(漏电)Test >q &ouVE  
分享到:

最新评论

我要发表 我要评论
限 50000 字节
关于我们
网站介绍
免责声明
加入我们
赞助我们
服务项目
稿件投递
广告投放
人才招聘
团购天下
帮助中心
新手入门
发帖回帖
充值VIP
其它功能
站内工具
清除Cookies
无图版
手机浏览
网站统计
交流方式
联系邮箱:广告合作 站务处理
微信公众号:opticsky 微信号:cyqdesign
新浪微博:光行天下OPTICSKY
QQ号:9652202
网站维护:成都光行天下科技有限公司
Copyright © 2005-2026 光行天下 蜀ICP备06003254号-1