[分享]VirtualLab：高NA物镜聚焦的分析 [复制链接]

摘要 k!WeE#"(  
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高NA物镜广泛用于光学光刻，显微镜等。因此，在聚焦仿真中最基本的就是考虑光的矢量性质。 使用VirtualLab对这种镜头进行光线追迹和场追迹分析非常方便。通过场追迹，可以清楚地展示不对称焦斑，这源于矢量效应。相机探测器和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性，可以让用户深入了解矢量效应。 {aK
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建模任务 {CTJX2&  
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概观 3e\IRF xzb  
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光线追迹仿真 3mg:9]X9  
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•首先选择“光线追迹系统分析器”（Ray Tracing System Analyzer）作为仿真引擎。 K]dR%j  
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•点击Go！ _?I*:: I  
•获得3D光线追迹结果。 Wu8zK=Ve(  
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光线追迹仿真   
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•然后，选择“光线追迹”（Ray Tracing）作为仿真引擎。 VT#`l0I}  
•单击Go！ - _%~b  
•结果，获得点列图（2D光线追迹结果）。 TDy$Mv=y  
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场追迹仿真 w:R#F( 'B  
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•切换到场追迹并选择“第二代场追迹”（Field Tracing 2nd Generation）作为仿真引擎。 zzd PR}VG  
•单击Go！ WHUl.h  
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场追迹结果（摄像机探测器） qc'
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•上图只显示整合了Ex和Ey场分量的强度。 }` <DKO/  
•下图显示整合了Ex，Ey和Ez分量的强度。 g!cW`B'  
Ez分量：由于在高NA情况下相对较大的Ez分量，可以看到明显的不对称性。 Ya!PV&"Z  
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场追迹结果（电磁场探测器） 2a 7"~z~  
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•所有电磁场分量均使用电磁场探测器获得。 oc[z dIk  
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更多阅览 l?Ls=J*  
- Optical System for Inspection of Micro-Structured Wafer s;sr(34  
- Imaging of Sub-Wavelength Gratings by Using Vector Beam Illumination Tiimb[|  
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一系列镜子是怎么加上去的？经验么