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    [广告]金鉴实验室提供材料表征测试服务 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-11
    金鉴实验室提供材料表征测试服务
    D$fWeG{f  
    收样一天出结果,全国可上门取样测试!开具正式测试发票! 6=p!`DOd  
    更有预存测试费免费送测试费重大福利! Lk]W?  
    金鉴实验室提供FIB制样、FIB-SEM、氩离子抛光制样!开具正式测试发票! D zdKBJT+  
    业务、合作联系:QQ:2853308315  电话:18811843699(微信同号)金鉴邵工 ?#lHQT  
    .W51Cup@&  
    金鉴实验室拥有扫描电镜(SEM)四台、扫描超声波仪(C-SAM)两台、双束聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)、X射线透视仪(XRD)、氩离子切割抛光仪、显微红外光谱(Micro-FTIR)、全套的热分析(TGA、TMA和DSC)、显微红外热像仪等大型精密贵重分析仪器设备。 rAZ~R PrW  
    PB;j4  
    聚焦离子显微镜(FIB-SEM) c@x6<S%*  
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    g v7@4G  
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    设备参数 9R99,um$  
    9cQ;h37J>  
    设备型号:Zeiss Auriga Compact Ge ?Q)N  
    "J{A}g[  
    FIB-SEM
    主要功能: d Z}|G-:  
    1.
    场发射扫描电镜(SEM):各种材料形貌观察和分析,如金属、半导体、陶瓷、高分子材料、有机聚合物等,放大率:12×~1000,000×;分辨率1.0nm@ 15kV;1.9 nm @ 1kV; zsr;37  
    2.X
    射线能谱分析仪(EDS):材料微区成分分析;MnKa峰的半高宽优于127eV;CKa峰的版高宽优于56Ev;FKa峰的半高宽优于64eV;元素Be4-U92; 4"s/T0C  
    3.
    聚焦离子束系统(FIB):材料微纳结构的样品制备,包括:SEM在线观察下制备TEM样品、材料微观截面截取与观察、样品微观刻蚀与沉积等,放大率:300×~500,000×;分辨率2.5nm @ 30kV。 i?D)XXB85  
    4.
    背散射电子探头(BSD):基于不同元素衬度不同,BSD探头除了观察样品形貌衬度,同时能够实现对样品成分衬度的观察。 'iX y?l  
    5.
    纳米操纵手:用于超薄样品(纳米级)固定转移及精细加工。 q"u,r6ED  
    6.
    气相沉积系统(GIS):FIB加工前为材料提供保护层,或用于材料精加工。 vu~7Z;y(<j  
    g4Nl"s*~  
    案例分享: ss4YeZa  
    :KI0j%>2y  
    芯片横截面解析(FIB+SEM) P=m l;xp  
    样品实物图 P\%aJ'f~  
    h|.{dv  
     @7J;}9E  
    qT^0 %O:  
    BeFXC5-qat  
    FKy2C:R(]  
    `S|T&|ad0  
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    1IN^,A]r2h  
    CcZM0  
    +8.1cDEH\  
    >M7(<V  
    fv:&?gc  
    氩离子切割抛光仪 ?:3rVfO  
    hR,5U=+M7  
    I\f\k>;  
    EMf"rGXu(  
    7Mb-v}  
    l%# z  
    {-51rAyi  
    案例分享: 3K%_wCZ  
    `!C5"i8+i2  
    1.
    页岩样品氩离子抛光效果: FSb4RuD9  
    ~b})=7n.  
    Hm]\.ZEy  
    Bkdt[qDn5P  
    ?I7%ueFY  
    2.
    铜-金刚石块状样抛光效果: Nc*z?0wP  
    ?&bB?mg\  
    抛光前:样品边界不清,金刚石埋藏在铜里面,SEM示,见不到金刚石颗粒。表面粗糙。 ;O {"\H6  
    C~"b-T  
    '~E=V:6  
    @DK`#,  
    }^azj>p5  
    ldr~=<hsZ  
    <+: PTG/('  
    S6{u(= H  
    ;rC< C  
    抛光后: Hli22~7T:  
    I[P_j`aE  
    *#j_nNM4  
    金刚石和铜基材界限分明,金刚石和铜基材界的交界处就是客户需要观察的地方。 3ZhuC".c  
    cQq78Lo  
    j`%a2  
    Ie/dMB=t  
    bf6:J `5Z  
    M9KoQS  
    c:2LG_mQ  
    0?=a$0_C  
    U3|9a8^H  
    3.电池电极材料涂片薄片样品的氩离子抛光。(薄片厚度100微米) SzyaVBD3  
      !rff/0/x"  
    (1)氩离子抛光效果图—锂电池电极材料A薄片(厚度约100微米) %jxeh.B3B  
    =$#=w?~%  
    <P#:dS%r  
    抛光过程: ^AC2  zC  
    7,FhKTV1/  
    `( _N9.>B  
    =}2k+v-B  
        
    _c,{}sn  
    )^m"fQ+  
    抛光后: PBgU/zVn  
    R,m|+[sl  
            
    ;8yEhar  
    yo :63CPP  
    (2)
    氩离子抛光效果图—锂电池电极材料B薄片(厚度约130微米) t"X^|!hKIF  
    cN~F32<  
    抛光后: I.kuYD62  
    HH|N~pBJB  
    J6Nhpzp  
    LQJC]*b1  
    jQ dIeQD+  
    oq2-)F2/  
    5. 离子抛光LED灯珠支架镀银层: U2jlDx4yg  
    Jn"ya^~  
    9]QHwa>_|2  
    抛光前: :\~YbA  
    uIR/^o  
    HEF\TH9  
    目前常见的测量镀层的厚度方法是利用金相研磨、抛光制作镀层截面样品,再通过SEM拍摄的高倍率图片并测量尺寸。但由于金属镀层有一定的延展性 G x{G}9  
    {gI%-  
    OXF/4Oe  
    (尤其是镀银层),金相磨抛过程中会导致金属有划痕、变形,产生假象,造成测量错误,影响判定。 t]8nRZ1  
    ~{ l @  
    :]9CdkaU  
    为了解决该问题,金鉴实验室独家提出利用离子抛光法制作LED支架截面样品。离子抛光法加工应力小,制作出来的截面没有变形,表面质量非常高,镀 oT"7O 5v  
    S+GW}?!  
    lCGEd  3  
    层结构不会发生变化,可以更加精确地测量镀层厚度。 A}_0iwG  
    抛光后: /g$8JL  
    qq>Qi(>  
    -lb%X 3`  
     J9lG0  
    a|Wrc)UR  
    yQ| V7G  
    6. 线路板铜片抛光后观测TSV: NGmXF_kqN  
    .7> g8  
    hI,+J>  
    =1zRm >m  
    ?gG%FzfQ/  
    q>[}JtXK  
     
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