[分享]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

摘要 D#X&gE  
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扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 }wGy#!CSza  
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（来源：讯技光电） Odbm"Y  

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