[分享]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

摘要 rPK1#  
,L\>mGw  
扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 H18pVh
 
+S@[1 N  
!:Ob
3Mq\  
>[S\NAE>  
建模任务 byPqPSY  
DDe`Lb%%  
A().1h1_k  
U% OlYP$g  
结果 { a_&L  
EZ[e a<  
A'n{K#  
5%w08  
文件信息 <sG}[:v  
u5tUm  
?~<NyJHN%  
x5b .^75p$  
（来源：讯技光电） >3&9Wbv>  

学习学习