专题0001
9:7&`J lC# AdWP 构建具有渐变
折射率（GRIN）
透镜的
成像系统，并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
4S*dNYc Bh7dAV( 关于此用例
l8+;)2p! • 需要以下工具箱
Svm'ds7> - 基本工具箱
$ZRvvm!f • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35）
LUEZqIf • 在此处获得免费试用版
beFD}` 此用例展示了…
<X ([VZ • 如何构建GRIN透镜
Q@/Z~xw"'I • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
!f G}<6&i ;ibOd~ 
N^zFKDJG GRIN透镜的构建
4E@_Fn_# !"dAwG ?S 
{GG;/Ns{f- Jm,tN/o* GRIN透镜：GRIN介质
$ t.M `:G Rg 5kFeS 
ITfz/ d8 
/-Nq DRmJ qb +Gjgp 系统设置：
探测器和连接
->2m/d4a · 探测器说明：
1B~[L 5p9 − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 0HDL;XY6 xo#K_"E 
P9 q ZjBS QZFH>,d 仿真结果：光线追迹分析
Rl n% Y W ntolYd 
V:2{LR<R8 仿真结果：场追迹分析
K$5mDScoJ i)7B :uA 
:Q"p!,X=- 系统设置：寻找像面
?fQ8Ff L4v26*P 
ov,[F< GT \12y,fOJ 仿真结果：光线分析和场追迹分析
bOD] `*q fiW2m=h_ 
@# GS4I 6Tsi^((Li 文件&技术
信息 K1zH\wH MC%!>,tC 
