专题0001
1 7hTr !c<w S Q, 构建具有渐变
折射率（GRIN）
透镜的
成像系统，并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
|0bc$ZY: 0;~yZ?6_F 关于此用例
+TN 9ujL6@ • 需要以下工具箱
^T4 Ay=~{ - 基本工具箱
&[?CTZ • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35）
rFJ[dz • 在此处获得免费试用版
H L<s@kEZ 此用例展示了…
_-c K{ • 如何构建GRIN透镜
,D80/2U^ • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
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BOf1J1 GRIN透镜的构建
5 HV)[us NWmtwS+@ 
*QE<zt yno(' 1B@ GRIN透镜：GRIN介质
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T bE:||r?^ 
(7$$; H!IDV }dn 系统设置：
探测器和连接
}GHxG9!z · 探测器说明：
f1{z~i9@$ − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 n l /UdgI Y'"N"$n'_ 
s<T?pH h.tY 'F 仿真结果：光线追迹分析
~waNPjPRG #] KgUc5B 
p5 ]_}I`+2 仿真结果：场追迹分析
eE:&qy ^ ,axDMMDI 
whc[@Tyx 系统设置：寻找像面
k1N$+h
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(wt+`_6 -rY 7)= 仿真结果：光线分析和场追迹分析
v ahoSc;sw y62%26 [ 
sy<iKCM\ lxb 8xY 文件&技术
信息 2wh#$zGy XQ;I,\m 
