专题0001
a'dlA da X?n=U ebO^ 构建具有渐变
折射率（GRIN）
透镜的
成像系统，并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
?2dI8bG 4K?
\5(b 关于此用例
)7o? }"I • 需要以下工具箱
@h!Z0}d X( - 基本工具箱
Qr 4 D • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35）
7C,giCYU • 在此处获得免费试用版
6y MZ2% 此用例展示了…
+`g&hO\W • 如何构建GRIN透镜
@7C.0>W_A • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
N)R5#JX }f? [m&< 
QKlsBq GRIN透镜的构建
NX.5 u8Pf BK6
X)1R 
q^Oj/w s OHsA]7S GRIN透镜：GRIN介质
%DXBl:!Y` q#8yU\J|, 
jnT Tj l 
BI %XF
9{ vB{i w}Hi! 系统设置：
探测器和连接
~?HK,` 0h> · 探测器说明：
{B4qeG5 − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 mTxqcQc:7 m|{^T/kIbQ 
]77f`<q<}! 0F/[GZ<k 仿真结果：光线追迹分析
2Ki _d S)j( %g 
09jE7g @X} 仿真结果：场追迹分析
Mb 4"bDBsl CW?Z\ 
K.Y`/< 系统设置：寻找像面
/(51\RYkir ?Y,^Mo c: 
}_XiRm< }^&f { 仿真结果：光线分析和场追迹分析
tzIP4CR~F& p^<(.+P4 
'6&o:t f'@ L|&w 文件&技术
信息
;(Ug]U%3_ EGQgrw Y5 
