专题0001
I"4B1g y
rk#)@/m 构建具有渐变
折射率(GRIN)
透镜的
成像系统,并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
CgC wM=!r Q
# gHD 关于此用例
-s"lW 7N^ • 需要以下工具箱
8vK&d> - 基本工具箱
k7*q.2 0 • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35)
bSfQH4F • 在此处获得免费试用版
5FxU=M1gF 此用例展示了…
\ 714 Pyy • 如何构建GRIN透镜
at!?"u • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
3
6
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C#>C59 GRIN透镜的构建
cht#~d "L]_NST
S J5kA` S6]': GRIN透镜:GRIN介质
{Y Ymt!Ic )Yml'?V"
\~PFD%]:3
MXb(Z9)]kw il~,y8WTU{ 系统设置:
探测器和连接
lS^0*(Y · 探测器说明:
N"TD$NrK\ − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 00i9yC8@6 ,tZwXP{
1*fA>v 2olim1 仿真结果:光线追迹分析
D_Y;N3E/rS $Tg$FfD6&
;Peyo1 仿真结果:场追迹分析
AN@Vos
Cu '' 6
J5k% 系统设置:寻找像面
V~;YV]1Y K_i2%t3
5S1m&s5k t(Uoi~#[ 仿真结果:光线分析和场追迹分析
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DjIs"5Iei (rJvE* 文件&技术
信息 _bX)fnUu Q*I/mUP&f