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光学测量>显微 d~qDQ6! 'GAjx{gM 任务/系统描述 qF>}"m :c
c#e&BO b8>rUGA{ \vKMNk;kz 亮点 Zsaz#z|xW 1XwbsKQ} =T!M` f\1)BZ'I 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ao Y"uT+ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 I:[3x2H 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 {]`O $S gR%fv 说明:光源 XD9lox Qb/qUUQO;0 mL ]zkD_ ga VWfG 说明:透镜系统 MH1??vW _bu, 1EM mI@]{K}Q% S$ dFz 说明:样品结构 ;ZB[g78%R% 0zetOlFbO v 6Tz7 }>>BKn
说明:探测器 rD
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R Mrh@9g 结果:3D光线追迹 eNpGa0 eG |I6\_K.=L N
=)9O k#&d`?X 结果:场追迹矩形光栅 NO8)XJ3s l>Z"y\l= "I}3*s9Q- i_Ab0vye 结果:场追迹锯齿形光栅 pq*W;6(-
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m ilHZx2k 文件&技术信息 ZXh6Se4o ]^$3S tY~EB.% >S,yqKp37~ n3-5`Jti QQ:2987619807 ?zM]p"M
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