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    [转载]各種雜散光分析工具介紹 [复制链接]

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    离线光杆司令
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2017-05-09
    摘要:在OpticStudio中從設計鏡頭到分析雜散光為止是一個完整的設計流程,軟體中內建各種工具讓序列模式到非序列模式能輕鬆的無縫接軌,其中包含一鍵轉換非序列,以及關鍵光線組等工具。 KaHjL&!  
    本文章將使用內建的雙高斯鏡頭示範在OpticStudio中如何分析雜散光,內容包含: dGcG7*EX  
    * 介紹雜散光 ^'C1VQ%  
    * 轉換序列式設計到非序列模式 z}N=Oe  
    * 設計鎖定工具 ;Zc(qA  
    * 關鍵光線組產生器 & 追跡 Wgdij11e  
    * 用 Filter String 篩選光路徑 4RNB\D  
    * 使用 Path Analysis 工具分析光路徑 HkEfBQmh  
    ,`MUd0 n  
    文章發布時間:April 23, 2017 TgVvp0F;  
    文章作者:Michael Cheng o|AV2FM)  
    $ T.c>13  
    簡介 Yyby 1  
    使用者用序列模式設計鏡頭,處理完成像品質、畸變、相對照度以及公差分析等問題之後,在原型製作之前,還會需要進行機構相關的分析,以避免出現多重反射的鬼影或強烈光源散射的雜光。一般來說,雜散光係指那些不經由設計好的路徑進入系統,最後在成像面上產生無法忽視、並且可見的影像的光線。下圖為一個不良系統產生強烈雜光的範例: N'!a{rF  
    Dw?nf  
    X) xQKkL0  
    在照相領域中,常見的雜光來源就是視野外的強烈光源 (例如太陽) 透過機構的散射,或是視野內的光源通過鏡片二次反射,聚焦到像面上這兩種。而在其他系統,例如天文望遠鏡,可能還會有其他類型的雜光問題。以下是一個雙重路徑的範例: d?*=<w!A  
    9=~"^dp54%  
    WeE>4>^  
    *<zfe.  
    開啟範例檔 `$7j:<c=  
    首先讓我們開啟內建範例檔Samples\Sequential\Objectives\ Double Gauss 28 degree field.zmx '$PiyM|V  
    作為前置作業,讓我們先把所有的鍍膜都取消,因為接下來我們要來研究哪個鍍膜的效果較好。 AY{caM  
    `TOm.YZG  
    9#iu#?*B  
    NI \jGR.  
    設計鎖定工具 Q\Fgc ;.U  
    接著我們執行Design Lockdown工具,此工具會調整使用者的系統設定,使鏡頭符合實際運作的條件,分析結果更正確。 &hEtVkK  
    粗略來說,這個工具所執行的步驟如下: G0|j3y9$  
    * 開啟 Ray Aiming kf>oZ*/  
    * 系統孔徑設為 Float By Stop Size V,fSn:8%M  
    * 改為 Angle 或 Object Height ?A;x%8}  
    * 固定表面孔徑:Circular Aperture YUat}-S  
    * 移除漸暈係數 2}[)y\`t3  
    關於更詳細的說明,使用者可以參考Help文件的說明。 hdp;/Qz&  
    ,n}X,#]  
    3VbMW,_&"  
    tpO%)*  
    產生關鍵光線組 g>A*kY  
    在轉換到非序列模式之前,讓我們先匯出序列模式中的關鍵光線,這包含主光線以及一系列的邊緣光線。這讓我們稍後可以直接在非序列系統中,直接檢查這些原本需要在序列模式中才能計算的光線。操作方法如下: \vXo~_-&  
    |vw0:\/ H  
    [*Nuw_l  
    0{j] p^'<  
    轉換到非序列 /\hybx'  
    在OpticStudio分析雜散光最方便的就是,我們只需要一個步驟,就能快速地切換到非序列模式中。 +LCpE$H  
    有關於序列到非序列模式的切換,我們在知識庫中有另一篇非常詳細的文章,讀者有興趣可以參考,此文章標題為:轉換序列式面到非序列物件 yf*^Y74  
    eYMp@Cx  
    >f JY  
    |T atRB3>  
    按一下OK後,可以系統已經變更如下。以下是非序列的元件列表,可以看到我們編輯的對象已經不再是Surface,而是Object。編輯器中還可以看到我們也建立了光源、探測器等物件,他們的位置跟原本序列式系統中的像面,視場之設定都是完全對應的。此系統除了是建立在非序列模式下之外,跟原本序列模式並無不同。 !jGe_xB}~  
    -uXf?sTV  
    z;JyHC)  
    5fMVjd  
    非序列模式中系統的運作方式跟序列模式有很大的不同,其中一個就是光線可以分裂。讓我們打開NSC 3D Layout視窗,並勾選 “Split NSC Rays”,就可以看到如下圖: @k>}h\w  
    fwK5p?Xhm  
    8e:J{EG~  
    GSIRZJl  
    我們也可以用Shaded Model觀看,效果如下: 9q5jqFQ  
    P3UU~w+s  
    D]\of#%T  
    ;fw}<M!6  
    檢查關鍵光線組的狀況 (-viP  
    讓我們點一下Critical Ray Tracer工具如下,可以看到各個視場的主光線與邊緣光線都能正常通過。當使用者設計好機構元件時,將會需要把機構元件的CAD檔匯入,再次使用此工具,確保機構沒有不小心遮蔽到主要光束 xr}3vJ7  
    O%L]*vIr  
    %wWJVq}jx  
    mD<- <]SYp  
    分析雜散光所需的設定 6e0tA()F  
    在開始追跡檢查雜光狀況之前,讓我們先來調整一些必要的設定。 FD:3;nUY7  
    首先是把最大光線分裂次數,以及最大光線與物件交會次數調整到最高,在雜光的分析中,有時候我們想要分析的光線是經過非常多次反射產生的,如果分裂次數或交會次數的設定不足,可能無法充分分析到所有狀況。 <fg~+{PA&  
    m r"b/oM{  
    jR[VPm=  
    >zFk}/  
    然後我們把追跡的光線數降低到5000條,原因是分析雜散光時,通常一條光線會分裂為非常多的子光線,比起不分裂的狀況,速度可能慢上十幾倍到百倍不等,這邊以示範為目的,因此我們把光線數量控制到較少的5000。 Y S/x;  
    (Ild>_Tdb`  
    Cp4 U`]  
    ]r|sU.Vl  
    最後一步是把探測面的像素數設為150x150,這會讓追跡的速度較快。 g<pr(7jO  
    h|qTMwPr  
    /9T.]H ~  
    '/8{Mx+  
    初步追跡結果 ])F*)U  
    然後我們就可以看看初步的追跡結果了。請開啟追跡,如下圖設定操作。 j5\z7  
    注意如下圖所示,追跡時要勾選 “Use Polarization” 以及 “Split NSC Rays”。 Od_xH  
    {\zTE1X9  
    }huj%Pnk )  
    )` ~"o*M  
    追跡完畢後開啟Detector Viewer,此工具的位置如下。 czNi)4x  
     ac  
    LCBP9Rftvd  
    lTb4quf8I  
    並且設定視窗如下圖。 Qw>~] d,Z  
    O0^m_  
    j.=&qYc0"  
    r@")MOGc  
    可以初步看到這個系統中因為多次反射造成的雜光。 HiAj3  
    slUnB6@Q  
    ^UU@7cSi|G  
    WB)pE'5  
    使用Filter String `CpfQP&^  
    現在我們要找出這些雜光的發生原因,並探索減少這些雜光的方法。下圖顯示了到達像面上非預期反射光(鬼影光)。為了特定出這些特定的光線,我們使用了OpticStudio中的「Filter String」的功能(下圖中紅框框起來的部分)。 `Iwl\x[A  
    M%&1j >d  
    <pA%|]  
    x[u4>f  
    接下來我們要使用一個快速的技巧,從前述的鬼影光線中,把入射到像面(探測器)上、能量較強的光線分離出來。這個技巧是透過設定最小相對光線強度達成的,如下圖紅框的部分,此處可以指定欲追跡光線能量的最小值。輸入的數值代表光線相對於自身從光源出發時的比例,預設是1x10^-6,代表光線會一直追跡值到小於出發時能量的0.0001%。 Me;XG?`  
    現在請輸入0.005,這會告訴OpticStudio當光線能量小於原始能量的0.005倍時,就停止追跡。 X~UrAG}_  
    XLHi  
    2 |`7_*\  
    >EE}P|=-  
    此時回到Layout中,重新整理多次之後,可以看到以下幾種路徑。 2i9FzpC3  
    K HyVI6N[  
    z }3` 9  
    p : {,~ 1  
    /]U),LbN  
    )6 U6~!k  
    給透鏡加上鍍膜 /1@py~ZX  
    為了輕減這些鬼影光,我們在透鏡上使用鍍膜。讓我們在鬼影光產生的兩個面上面設定膜層(coating),並了解其效果。 ^8.s"4{  
    這裡我們在 M!i["($_  
    物件6的Face 2以及 xAwP  
    物件10的Face 1上指定名稱為AR的鍍膜。 b=@H5XTZyK  
    L"8Z5VHA&&  
    %Ev)Hk  
    E!A+J63zsw  
    再次追跡之後,就可以看到周圍的鬼影量大幅降低。 C6"{-{H  
    z`H|]${X  
    L;\f^v(  
    xs 1V?0  
    J,G/L!Bp  
    分析特定區域的光 (使用Filter String) FPb4VJ|xm  
    初步排除基本雜光之後,我們現在發現在畫面中還有一個不可解釋的雜光,現在假設我們想知道下圖這個圓弧是哪裡來的,要怎麼辦? sA~Ijg"6  
    _xsHU`(J#  
    ^O.` P  
    V~#8lu7;  
    這裡我們要再次使用Filter String。在OpticStudio中,Filter String 的功用主要是利用光線的特徵來篩選光線。在Help文件中,可以查閱將近100個的指令。此外如同前面示範的,我們還可以使用邏輯符號,例如「&、|、^」等,來組合出無限多種篩選條件。 xWK0p'E0  
    現在我們要利用以下四個指令的組合,來達成篩選上述區域的功能。 "]T1DG"  
    Z-j?N{3&  
    bblEZ%  
    ~%eZQgqA*  
    現在讓我們重新追跡,並且這次追跡時,要勾選Save Rays的選項,如下圖。 &>n:7  
    這會告訴OpticStudio把光線追跡過程中的所有歷史都儲存下來。 5X PoQ^  
    \J(kevX  
    G#L6;  
    42f\]R,  
    然後我們回到Layout中,讀取顯示剛剛儲存的追跡歷史,並輸入剛剛的Filter String。 (I/ZI'Ydy  
    ;fYJ]5>  
    [_`<<!u>-  
    P^aNAa  
    注意我在前面額外追跡設定了{#50},這代表要篩選出代表性的50條光線。 g#Z7ReMw  
    vYybQ&E/  
    回到Layout中,就可以看到系統確實顯示出所有到達像面中該位置光路徑。 ,\ -4X  
    但這裡出現了一個問題,那就是我們發現有太多可能的路徑。 '/s/o]'sUd  
    根據經驗,我們知道不可能所有的路徑都是強烈的,這些路徑中,很可能其中一到兩個才是主要的雜光兇手。我們應該關注那些貢獻最多能量的路徑。 C>Q|"Vf2  
    6W< Ig;  
    /hur6yI8  
    sa}.o ZpQ  
    O]XgA0]  
    fh*7VuAc  
    進階路徑分析 |H(i)yu"5'  
    因此這裡我們就開啟進階路徑分析工具,工具位置如下。 _'|C-j`u$  
    注意我們一樣可以把剛剛的Filter String輸入到此工具中。 x"7PnN|~  
    a51}~V1  
    >]HvXEdNZ|  
    e= XC$Jv  
    分析後可以看到所有路徑中,幾乎所有能量都集中在 3 > 6 > 15這個路徑上。 Y .E.(\  
    讓我們回到 Layout 看看是哪個路徑。 [F!h&M0z  
    把進階路徑分析工具中找出來的第一條路徑輸入到Filter String中的方法很簡單,只要在原本的Filter String最後面加上一個_1即可。,可以看到如下圖。 %+((F +[  
    hWiHKR]  
     Spw^h=o  
    as73/J6  
    啊哈!分析發現原來這是因為我們還沒有加上機構產生的路徑,實際上這是不會發生的。這個路徑也同時解釋了為什麼我們看到的雜光是一個圓弧狀。 vjVa),2  
    6>3zD)tG  
    下圖是使用第二、第三、第四路徑的分析結果,跟前面一樣,我們只要在Filter String的最後方加入_2、_3、_4即可。 (QdLz5\  
    .E 9$j<SP-  
    IrIW>r} -  
    V`0Y p  
    uF ;8B]"  
    v8 II=9  
    RWB]uHzE  
    Zbr1e5?  
    e< G[!m  
    .kyes4Z  
    (转自:中文版 Zemax Forum )
     
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    只看该作者 1楼 发表于: 2017-05-10
    这个功能不错
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    只看该作者 2楼 发表于: 2017-05-12
    多谢楼主分享
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    只看该作者 3楼 发表于: 2017-05-12
    这个操作起来有点繁琐,不如tracePro来的简单明了
    离线villonwyz
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    只看该作者 4楼 发表于: 2019-02-27
    dio中從設計鏡頭到分析雜