[分享]眩光的定量分析Quantifying Veiling Glare [复制链接]

摘要  眩光(Veiling Glare)是成像光学系统设计领域经常使用的术语。从技术角度讲，眩光是到达成像系统的传感器平面的杂散光，并且它可能会导致成像系统性能的下降。 f6I)c$]Q  
通常，为了得到准确的结果必须进行纯非序列分析。然而，对于很多成像光学系统，对前向散射效应的直观认识十分必要。这篇文章将要展示如何使用ZEMAX内置的工具对一些基本的眩光进行测量。这个分析需要花费几分钟，并且会给出十分有用的结果。 }Cu:BD.zQ  
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学习学习！ ;.jj>1=Tnl  
简单翻看了下，文章主要通过在窗口添加朗伯体ABG散射模型，分析暴露的光学窗口散射引起的光学系统MTF、spot等变化。 c7+6[y DVE  

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简单翻看了下，文章主要通过在窗口添加朗伯体ABG散射模型，分析暴露的光学窗口散射引起的光学系统MTF、spot等变化。 DFfh!KKR$  
 (2015-02-05 09:54)  /W>?p@j+K  

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