X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪  .02(O  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 T{H#]BF<E  
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技术参数 #8f"}>U9.,  

波长范围 WUWb5xA	5-20 q\b ?o!#_	10-60 d)GkXll1D	25-80 e=]oh$]
光源距离（m） jbhJ;c:	YNJpQAuSn)	0.4-0.6 uU ?37V	0.5-1.5 W3V{Xk|
平场尺寸（mm） 'oiD#\t4	25.4 g.Caapy	50 x$5nLS2.	50 )47j8jL
色散(nm/mm) LJNie*	0.5-0.7 gjegzKU	0.7-1.1 1|EU5<	0.9-1.3 M`C~6Mf+
光谱分辨率（nm） zUEfa!#?	0.06 R#7+	0.09 (LT\ IJSM	0.11 tY$ty0y-e
x:n9dm	;[OJ-|Q	jRdhLs,M9	A D}}>v
升级波长范围 O^R :_vb3I	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ^0-e,d 9h
探测器选择 a._^E/EV	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 }Uwkef.Q
光栅台 _5U%'\5s	电控 2 -p
工作环境 [zh4W*K_cq	<10-6mbar X6Nm!od'
操作性 }*B qi7E>	极易安装使用，用户自己即可安装使用 WJY4>7}{B@

• V^Mf4!A(y  
技术优势介绍： "x.6W!  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 Y( V3PnH  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 yYG3/Z3
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-平场成像技术 |auX*hb9  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 vNK`Y|u@  
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紧凑/模块化 |?2 hml  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） X#p o|,Q  
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结实耐用无需准直 0V>ESyae5  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 re ]Ste  
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- 定制化 \`P2Yq  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 <*A|pns  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 W?"2;](  
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典型客户： E~<(i':  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) Y0Hq+7x  
   
2. < >Los Alamos \tiUEE|k  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828