X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 M=#'+CF}W  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 HMl M!Xk?  
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技术参数 =l+~}/7'Z  

波长范围 !.@F,wZvY	5-20 R>y/Y<5=	10-60 <Oihwr@5<	25-80 A?4s+A@Eg
光源距离（m） v 18OUPPX	ePscSMx&	0.4-0.6 &at>sQ'	0.5-1.5 Kw87 0n<
平场尺寸（mm） :7[4wQDt4	25.4 'j'G4P_G	50 a2SXg A	50 ':#DROe!
色散(nm/mm) z2IKd'Wy	0.5-0.7 XkEE55#>|	0.7-1.1 e!oL!Zg	0.9-1.3 ~=k?ea/>
光谱分辨率（nm） 6YF<GF{	0.06 J?_-Dg(=	0.09 G6q*U,	0.11 e_3($pj
4 gh` >	ykD- L^}	5nS}h76mZ	!eA6Ejf
升级波长范围 Kdr}7#c	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) ]:}x 4O#
探测器选择 Rg%Xy`gS	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 4 ;V;8a \A
光栅台 ;X%8I$Ba,	电控 e {805^X}
工作环境 k~IRds@G	<10-6mbar 3=' Kii=LA
操作性 K8 Hj)$E61	极易安装使用，用户自己即可安装使用 SdNxSD$Q

• ~'VVCtA  
技术优势介绍： S0H|:J  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 Zy=DY  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 +@qIDUiF3  
1{.5X8y1x  
-平场成像技术 v(~EO(n.  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 sfzDE&>'  
w-P;E!gTt  
紧凑/模块化 04#<qd&ob@  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） FE3uNfQs|  
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结实耐用无需准直 *QA
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 f6`W(OiE  
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- 定制化 'c#AGi9  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 `*y%[J,I#  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 C=x70Y/  
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典型客户： tu6<>  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) Xh@;4n  
   
2. < >Los Alamos x\aCZ  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828