X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 U!aM63F3  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 r3l1I}  
FH+X<  
技术参数 :V(L
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波长范围 C#kE{Qw10r	5-20 >>y`ap2%V	10-60 68Fl/	25-80 0%ul6LvM
光源距离（m） l88=	{]k#=a4	0.4-0.6 `tkoS	0.5-1.5 c*;oR$VW
平场尺寸（mm） Mu \V3`j	25.4 yQ$irS?	50 S,c{LTL	50 E^1yU
色散(nm/mm) ]pn U"	0.5-0.7 !l (Vk	0.7-1.1 ,/\`Rc^n	0.9-1.3 (S~kyU!)0
光谱分辨率（nm） ^kKLi	0.06 A2|Bbqd	0.09 @dWA1tM	0.11 Uwc%'=@
)|~&(+Q?]	ZcN0:xU	\@gV$+{9	e~]P _53 
升级波长范围 f%]@e9dD	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) <=4$.2ym
探测器选择 ;_,jy7lf	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 kL'4m
光栅台 OrkcY39"~a	电控 T3wTMbZ!VK
工作环境 2(eO5.FYF	<10-6mbar X-\$<DiJGv
操作性 o?baiOkH	极易安装使用，用户自己即可安装使用 7{#p'.nc5

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技术优势介绍： E`)e ;^  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ,}t%7I  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 /!]K+6>
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-平场成像技术 56Wh<i3  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 f(Xin3#'  
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紧凑/模块化 V%R]jbHZ#  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） 6tH}&#K  
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结实耐用无需准直 f#s6 'g  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 7ys' [G|}r  
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- 定制化 -M{szH  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 h% -=8l,  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 rmjuNy=(  
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典型客户： C. .|O  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) oz
   Oc6  
   
2. < >Los Alamos W? G4>zA  
   
3. Max Planck Institute

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