X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 3`HnLD/  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 gPzL*6OSA  
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技术参数 TP1
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波长范围 7GZgu$'	5-20 5FC4@Ms`	10-60 ZyR_6n>L$	25-80 U-0#0}_
光源距离（m） /w]&t\]*	}<MR`h1	0.4-0.6 Q36)7=at	0.5-1.5 8*g ^o\M
平场尺寸（mm） SbsouGD,{	25.4 ]%RNA:(F'	50 L;W.pe0	50 kqvow3u
色散(nm/mm) IGFGa@C	0.5-0.7 tLm867`c7	0.7-1.1 8_uzpeRhJc	0.9-1.3 d~ng6pA
光谱分辨率（nm） g"Qh]:	0.06 pz_e=xr	0.09 ^_p%Yv	0.11 =A[5= k>
Qq0l*)mX	7s'- +~	2aNT#J"_	7Tf]:4Y"
升级波长范围 # Oup^ o@	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) HTz+K6&
探测器选择 <64HveJ	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 daZQz"PP
光栅台 f?Bj _z	电控 Q |i9aE
工作环境 ,:v&4x&=	<10-6mbar 3+OsjZ
操作性 (UEXxUdQ_Q	极易安装使用，用户自己即可安装使用 NB8& 

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技术优势介绍：
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 us)*2`?6t  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 F=@i6ERi  
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-平场成像技术 >tRHNB_  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 `T!#@&+  
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紧凑/模块化 ^!:"Q3  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） _; ]e@  
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结实耐用无需准直 $v;dV@tB  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 !FG%2L4?,5  
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- 定制化 whc[@Tyx  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 V+B71\x<  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 &d$
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典型客户： %l9$a`&  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) :.IN?X  
   
2. < >Los Alamos p6 xPheD  
   
3. Max Planck Institute

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