X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 $(XgKq&xWZ  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 6#O#T;f)  
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技术参数 _o&94&  

波长范围 2aFT<T0	5-20 PE|PwqX	10-60 /=q.tDH=I	25-80 UDVf@[[hN
光源距离（m） Y>G*'[U	RA}U#D:$i	0.4-0.6 ia_Z\q	0.5-1.5 Y+5"uq<'
平场尺寸（mm） ZWFG?8lJ	25.4 _/ct=	50 </|)"OD9	50 })KJ60B
色散(nm/mm) M5F(<,n;	0.5-0.7 ,%[LwmET	0.7-1.1 ) b /n)%6	0.9-1.3 mF}c- D
光谱分辨率（nm） Z@}sCZ=#A	0.06 6NzBpur 2H	0.09 'YBi5_	0.11 3IGCl w(
(=`Z0)=	Z(KmS(	c%ZeX%p	phr2X*Z/)Y
升级波长范围 IF5sqv	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 5dqQws-,?1
探测器选择 ;i.I&*t	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 d3Y(SPO
光栅台 sZ]'DH&_(	电控 ^p$1D
工作环境 '!Hhd![\=|	<10-6mbar /731.l
操作性 Ir!2^:]!	极易安装使用，用户自己即可安装使用 P`p6J8}4

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技术优势介绍： m dC`W&r  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 sS-W~u|C  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 =Na/3\^WP  
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-平场成像技术 kNRyOUy  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 >vHH  
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紧凑/模块化 zpbcmQB*  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） mPckf  

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结实耐用无需准直 ==nYe{2  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 9!5b2!JL  
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- 定制化 N )'8o}E  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 ?hxK/%)  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 6 M*b6  
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典型客户： :-$cdZ3E  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) |~z8<  
   
2. < >Los Alamos A *a{  
   
3. Max Planck Institute

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