X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 mhz
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像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 7=k^M, a  
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技术参数 Hwu4:^OL|  

波长范围 GGnp Pp	5-20 `.^ |]|u	10-60 &ao(!/im	25-80 .y):Rh^
光源距离（m） }9&9G%	j*zD0I]	0.4-0.6 ({[,$dEa;	0.5-1.5 B9M>e'H%<
平场尺寸（mm） z"379b7cN	25.4 p2d\ZgWD=)	50 R^8{bP	50 MYdx .NZT
色散(nm/mm) #jS[ 	0.5-0.7 LM.`cb;?G	0.7-1.1 3?E}t*/	0.9-1.3 S SmHEy*r)
光谱分辨率（nm） 213\ehhG<	0.06 Gr)-5qh	0.09 *jCW.ZLY	0.11 /Ox)|)l
|4C^$	m,tXE%l	jv&+<j`r	lhPGE_\
升级波长范围 5 9-!6;T	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) lG"H4Aa>
探测器选择 VKrSh I	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 }5bM1h#z
光栅台 n?QZFeI`	电控 Yx%bn?%;&
工作环境 LP<<'(l`	<10-6mbar r<yhI>>;<
操作性 I3)Zr+	极易安装使用，用户自己即可安装使用 ][:rLs

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技术优势介绍： p^X^1X7  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 j _ ;fWBD:  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 LWmB, Zf/  
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-平场成像技术 &jf7k <^  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 -dRFA2Y  
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紧凑/模块化 \:/Lc{*}MD  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） |wp,f%WK  
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结实耐用无需准直 ISNcswN#  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 oXgdLtsu  
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- 定制化 C`K^L=8`{  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 GozPvR^/  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 n=!uNu7  
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典型客户： 8ws$k\>  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) *'8LntZf  
   
2. < >Los Alamos 6STp>@Ch]"  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息请联系：sales@@advacedlight.cn， 或致电021-60450828