X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 {!|}=45Z  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 mC?i}+4>4R  
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技术参数 ac kqH+'  

波长范围 X|0R=n]	5-20 {~|OE-X][	10-60 jdE5~a+	25-80 X U/QA [K
光源距离（m） w.,Q1\*rPp	8]4U`\k4	0.4-0.6 )o-Q!<*1	0.5-1.5 ZxV"(\$n
平场尺寸（mm） I$E.s*B9	25.4 b@3_L4~	50 pfu1O6R	50 JpsPNa
色散(nm/mm) "&+"@<	0.5-0.7 I;VuW	0.7-1.1 pdJ/&ufh	0.9-1.3 lWBb4 !l
光谱分辨率（nm） bAKiq}xG%i	0.06 MlLb|!,)T	0.09 |6=p{y	0.11 [mEql,x3
kJWN.	x.8TRMk^	s"Pf+aTW	Z2im@c67{
升级波长范围 cUTE$/#s	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) 3~nnCR[R
探测器选择 *tm0R>?!	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 Y0D}g3`
光栅台 PJcwH6m	电控 gTA%uRBa
工作环境 hstbz	<10-6mbar ^v.,y3
操作性 hXqD<?	极易安装使用，用户自己即可安装使用 /-#I_>:8'

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技术优势介绍： @as"JAN  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 3O7!`Nm@  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 _`64gS}^  
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-平场成像技术 BD`2l!d  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 L%>n>w  
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紧凑/模块化 ^pJ!isuqu  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） o] mD
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结实耐用无需准直 detwa}h[0  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 i hh/sPi  
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- 定制化 O(+phRwJ  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 u|4$+QiD  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 i;!H!-sM  
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典型客户： ^h{)Gf,+\  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 'Ysx=  
   
2. < >Los Alamos ~ o1x;Y6  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828