X射线与极紫外XUV光谱仪

X射线与极紫外XUV光谱仪 s>=$E~qq  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 y!x-R!3  
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技术参数 M"foP@  

波长范围 @ev^e!B	5-20 }OSfC~5P	10-60 ]''tuo2g8	25-80 lUiO|
光源距离（m） m/WDJ$d	X^C $|:	0.4-0.6 d>/4z#R}-	0.5-1.5 +!t *LSF
平场尺寸（mm） ltHuN;C\	25.4 n65fT+;	50 =nCV.Wf	50 _he~Y2zFz
色散(nm/mm) V/ZWyYxjLi	0.5-0.7 9Dyw4'W.N	0.7-1.1  aqwW` \	0.9-1.3 mG%cE(j*D
光谱分辨率（nm） ^.M_1$-	0.06 nb@<UbabW}	0.09 7N0m7SC	0.11 zu1gP/
Pd(n|t3[8	Si|8xq$E;	! & V,+}>)	mN#&NA
升级波长范围 *T{KpiuP	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) XlGB`P>?KD
探测器选择 Lya?b	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 %Jn5M(myC
光栅台 'IER9%V$	电控 `~@}f"c`u
工作环境 b{W ,wn	<10-6mbar &0mhO+g
操作性 vw` '9~	极易安装使用，用户自己即可安装使用 -Q!?=JNtQ

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技术优势介绍： Uzk_ae  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ;~s@_}&  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 @T-}\AU  
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-平场成像技术 Bc#6mO-  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 T f^O(  

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紧凑/模块化 F#{PJ#  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） ||?wRMV  
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结实耐用无需准直 hpticW|  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 2K'}Vm+  
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- 定制化 =`%%
*  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 "2@Ys*e  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等
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典型客户： 5TdI  

1. < >The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) i)e)FhEY6  
   
2. < >Los Alamos B Zw#ACU  
   
3. Max Planck Institute

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详细信息，[url=>请联系<a href=]sales@advacedlight.cn[/url] 或致电021-60450828