射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 y8k*{1MuO  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 +&j&es  
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技术参数 _5%NG 3c  

波长范围 _pZaVx	5-20 d \[cFe1d	10-60 HC[)):S*	25-80 M!Hn`_E
光源距离（m） RD1N@sHDKc	[@RJ2q$	0.4-0.6 Rfuq(DwD6	0.5-1.5 q[rBu9
平场尺寸（mm） 6&Al9+$	25.4 [->uDbtzL	50 H)u<$y!8	50 YN<:k Wu
色散(nm/mm) Y%"6	0.5-0.7 ImnN&[Cu	0.7-1.1 ;WG6|QgV?-	0.9-1.3 oI/jGyY;
光谱分辨率（nm） t^Hte^#S	0.06 VUD ?iv7	0.09 (ZI11[e{	0.11 =Y;w O8
}%m:^*@$9	COC6H'F	e.<y-b ?	`tZ-8f
升级波长范围 W\W|v?r	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) O5;$cP:
探测器选择 =5PNH2	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 &1k2J 
光栅台 a`:ag~op@&	电控 U:[#n5g
工作环境 _#2AdhCu	<10-6mbar OB&l q.r
操作性 D-GIrw{>5	极易安装使用，用户自己即可安装使用 a1p}y2

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技术优势介绍： FN)vFQ#J  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 <+%#xi/_  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 %%=PpKYtSD  
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-平场成像技术 `!t+sX-n  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 9*"Ae0ok1  
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紧凑/模块化 `QIYnokL  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） @fML.AT  
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结实耐用无需准直 :
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 y_mD9bgW  
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- 定制化 8,(FJ7OCT,  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Z6Owxqfht  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 Tn'_{@E;  
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典型客户： ?uq7K"B  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) IQz:DJ  
   
2. Los Alamos :())%Xu3  
   
3. Max Planck Institute
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