射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 d!w32Y,.  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 d [K56wbpx  
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技术参数 \]y$[\F>  

波长范围 3(vI{[yhT	5-20 _|H]X+|	10-60 sV3/8W13	25-80 "o[\Aec:
光源距离（m） i3#]_ p{	4S03W	0.4-0.6 #4d0/28b	0.5-1.5 !BK^5,4?--
平场尺寸（mm） 7jEAhi!Cq(	25.4 I uhyBo	50 HykJ}ezX4	50 /mqEc9sq,
色散(nm/mm) nQ/(*d	0.5-0.7 q(a6@6f"kD	0.7-1.1 ;k!Ej-(	0.9-1.3 b4,yLVi<T
光谱分辨率（nm） V3F2 Z_VH2	0.06 B>9D@fmzs	0.09 M|Z]B<_x	0.11 jsk<N
7J0PO}N	` LU&]NS3	)[%#HT	64>Z r
升级波长范围 tJ'U<s	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) _3kAN.g
探测器选择 I /> .P	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 t %N#Yh!
光栅台 +a;:7[%&	电控 sA}=o.\j:
工作环境 &wLI:x5	<10-6mbar P]!eM(
操作性 ~#(bX]+A	极易安装使用，用户自己即可安装使用 JX>_imo

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技术优势介绍： W;Fcp  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 RHE< QG  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 U'Vz   
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-平场成像技术 b
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 YzEa?F*$  
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紧凑/模块化 TLO-$>h  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） z[CCgs&vqe  
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结实耐用无需准直 IsnC_"f  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 !k%Vw18  
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- 定制化 B#sc!eLmU&  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 @I_A(cr  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 2nOQ48haT  
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典型客户： /5zzzaj{  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) gp(w6:w  
   
2. Los Alamos &5C%5C~ch  
   
3. Max Planck Institute k6G23p[9  
   

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