射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 '-i tn  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 [QZ~~(R  
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技术参数 [BQw$8+n_  

波长范围 Ox~'w0c,f	5-20 ~o/^=:*	10-60 #>v7" <	25-80 Q?a"uei[
光源距离（m） #h3+T*5} 6	3-mw-;.	0.4-0.6 phc1AN=[E	0.5-1.5 b<F 4_WF
平场尺寸（mm） VNYLps@4H	25.4 /M3D[aR<d	50 Rm*}<JN31	50 Z@[,"{Sn
色散(nm/mm) i`>X5Da5	0.5-0.7 jYy0^)6X(	0.7-1.1 Y;&#Ur8q	0.9-1.3 i9xv`Ev=R
光谱分辨率（nm） ]~qN<x	0.06 lTB!yF.r|	0.09 87^ 4",	0.11 1!f'nS
jO,<7FPs5	uWWv`bI>x	c"YK+2	eYcx+BJ
升级波长范围 (t]>=p%4g	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) .HQ<6k:
探测器选择 ya_' Oz!C	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 }-L@AC/\#
光栅台 2T3DV])Q	电控 o(``7A@7a
工作环境 g\-3c=X	<10-6mbar V^{!d }
操作性 {6n \532@	极易安装使用，用户自己即可安装使用 6g"<i}_|

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技术优势介绍： ,\M_q">npc  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 Q'a N|^w"f  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 [;=ky<K0E  
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-平场成像技术 !p&'so^-W  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 ? g{,MP5  
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紧凑/模块化 O<h#|g1  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） Qf|}%}%fp  
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结实耐用无需准直 7:L~n(QpP  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 S<_pGz$V  
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- 定制化 ~yi&wbTjM  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 N 9&@,3  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 z{g<y^Im+E  
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典型客户： ]'h)7  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) 4) 3pa*  
   
2. Los Alamos na3kHx@  
   
3. Max Planck Institute #(IMRdUf  
   

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