射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 #}k^g:l1  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 D}3E1`)W  
DVpqm6$Q  
技术参数 .5ingB3%  

波长范围 qPzgGbmD9	5-20 A1YIPrav(	10-60 Dj<Vn%d*	25-80 @8/-^Rh*
光源距离（m） )0UQy#r	$9hOWti	0.4-0.6 Cu/w><h)	0.5-1.5  Rl6E
平场尺寸（mm） Gc SX5c	25.4 rJ<v1Yb	50 <PfW	50 :L\@+}{(c
色散(nm/mm) 8c~b7F \	0.5-0.7 I^lb;3uR	0.7-1.1 Bd\p!f<	0.9-1.3 [kC-g @
光谱分辨率（nm） M+nz~,![	0.06 }|A%2!Q}	0.09 53l9s<bOQ	0.11 nq_sbli
,T1t`	^Z}INUv]7	Ng;E]2"	u^:!!Suo
升级波长范围 c()F%e:n	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) x2K.5q>
探测器选择 U24?+/5D]	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 .!=g
光栅台 30F&FTW	电控 *[_?4*F
工作环境 v( (fRX.`	<10-6mbar rY($+O@a<
操作性 ?b2%\p`"	极易安装使用，用户自己即可安装使用 m: w/[|_

• }HXNhv-K  
技术优势介绍： L!/USh:IP  
光源可以直接成像/超强信号采集能力 ,hX03P-X  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 t ZFG`'/  
WXXLD:gxI  
-平场成像技术 YMJjO0  
我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 mqtl0P0  
mJWl#3  
紧凑/模块化 |QxDjL<&t4  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） \!s0VEE  
t5e%"}>7H  
结实耐用无需准直 6C) G  
光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 UyIjM;X  
"1`c^  
- 定制化 U7 Z_  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Po=)jkW  
这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 L42C<  
SAXjB;VH6  
典型客户： rWSw1(sAA  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) }&;0:hw%  
   
2. Los Alamos 4JP01lq'\  
   
3. Max Planck Institute xae}8E  
   

hC5ivJ  
详细信息，请联系sales@advacedlight.cn或致电021-60450828