射线与极紫外XUV光谱仪

射线与极紫外XUV光谱仪 |T{ZDJ+  
像差校正平场入射X射线光谱仪，光谱范围可涵盖1-80nm.模块化设计，可以满足不同的实验条件和环境。 :-~x~ah-  
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技术参数 A/.z. K  

波长范围 ~e=KBYDBu	5-20 Pz-=Eq	10-60 $}P>_bq	25-80 10 *^
光源距离（m） e*o:ltP./	fa,;Sw	0.4-0.6 PcvA/W	0.5-1.5 r6L
平场尺寸（mm） x)T07,3:	25.4 xt8@l [Z	50 ]%UAN_T	50 ]o `FF="at
色散(nm/mm) W |+&K0M	0.5-0.7 Q#Xa]A-	0.7-1.1 uU1q?|4	0.9-1.3 WiFZY*iu5
光谱分辨率（nm） _RX*Ps=	0.06 _? u} Jy_	0.09 %j?7O00@	0.11 K\ $z,}0
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升级波长范围 QM'> )!8	将来可拓展至1-15nm(仅需搭配该范围光栅) yJw4!A 1!
探测器选择 E5$uvxCI	X-Ray 相机，MCP探测器，fiber taper系统 LdyE*u_
光栅台 s4>xh=PoJ	电控 -ha[xM05
工作环境 62#8c~dL	<10-6mbar m\ /V0V\
操作性 Y'o.`':\~	极易安装使用，用户自己即可安装使用 5fK<DkB$>:

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技术优势介绍： 66cP
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光源可以直接成像/超强信号采集能力 r-o6I:y  
相比于传统的装置，我们的XUV光谱仪不需要入射光阑，所以光源信号可以直接进入探测器。超过80%的入射信号能被收集和探测，通光效率提高了15-25倍。 [Kd"M[1[<  
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-平场成像技术 G)\6W#de
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我们的仪器基于高性能色差校正的平场光栅技术。不同于传统光栅，所有波长聚焦于一个平面而非圆状形。这将提高光谱分辨率 m`/!7wQs  
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紧凑/模块化 YQ5d!a.  
光谱仪非常紧凑，能轻松与真空腔装置栓接。本身具有高稳定性，无需光学平台，无外置式可移动部件。尽管非常紧凑，该光谱仪却能保持高性能，具有诸多配置灵活性（源距离、光谱范围、探测器种类、真空泵等） fhe%5#3  
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结实耐用无需准直 H/O
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光谱仪的紧凑式设计使得能够抵抗环境扰乱（震动、声音等）。无外接可移动部件，闭环伺服控制的光栅转台确保绝对位置监控增强了结实耐用性。此外，无入射狭缝设计使仪器较少受外部环境干扰。在入射光阑处沿色散方向失调，将会导致超过20%信号下降 |C;*GeyS;J  
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- 定制化 ~kPZh1n`  
该XUV光谱仪可以按照客户要求定制化。可以严格匹配客户研究与应用。 Y--Uo|
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这包括与实验仓的耦合、源距离的的搭配、集成客户提供的探测器、用户选定的滤光片以及支架、非磁仪器、特殊环境等 P3V}cGZ  
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典型客户： c(0Ez@  

1. The Institute of Electronic Structure and Laser of the Foundation for Research and Technology-Hellas (IESL-FORTH) wGnFDkCNz  
   
2. Los Alamos WK6|e[iP  
   
3. Max Planck Institute 5K?%Eo72!=  
   

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