粗糙度测量仪P3

发布:universalpei 2014-05-20 14:35 阅读:1509
产品简介: %Va!\#  
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 L>R P-x>  
产品特性: cj'}4(  
1.    测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 z3;*Em8Ir  
2.    测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 ,~]tg77  
3.    可测样品的最大坡度:87oC pv Gf\pu  
4.    测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 suzZdkMA  
5.    不受环境光的影响 xe` </  
6.    不受样品反射率与形状的影响 [CXrSST")E  
7.    操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 8Hn|cf0  
主要技术参数 j4uvS!  
1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) ?}U(3  
2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) %*0^0wz  
3, Z方向测量范围:300μm h* u  
4, Z方向测量分辨率:8nm 7OJ'){R$  
5, Z方向测量精度:60nm 70Wggty  
6,横向光学分辨率:2.6μm Pf\D-1gi  
产品应用: l)&X$3?tz  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 zIu E9l  
2vWx)Drb6  
联系人:刘蕊             联系方式:010-53203403       `u teg=  
       13933947304 N%*5T[.  
15652958313 75/(??2  
网址:www.mnt-china.cn     微纳(香港)科技有限公司
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