粗糙度测量仪P3

发布:universalpei 2014-05-20 14:35 阅读:1450
产品简介: q$BS@   
P3型全自动粗糙度测量仪是一款非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,符合国际标准ISO25178,用于取代传统的接触式探针型粗糙度测量仪。测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等任意样品,不收材料形状及颜色的限制。 m(eR Wx&pZ  
产品特性: ~;P>}|6Y  
1.    测量具有非破坏性:采用白光共聚焦技术,可获得纳米级分辨率 bFtzwa5Gc  
2.    测量范围大:15mm×15mm,无需进行图像拼接 ] R-<v&O  
3.    可测样品的最大坡度:87oC u[~= a 5:4  
4.    测量范围广:可测平面、曲面、球面、透明、半透明、高曲折度、抛光、粗糙样品 )9'Zb`n  
5.    不受环境光的影响 mdy+ >e <  
6.    不受样品反射率与形状的影响 _5&LV2  
7.    操作简单:样品无需特殊处理优于传统的探针技术与干涉技术形貌仪 j#[%-nOT  
主要技术参数 CWW|?  
1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm) nHTb~t5Ke  
2, 扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm) | +r5D4]e  
3, Z方向测量范围:300μm )W.Y{\D0  
4, Z方向测量分辨率:8nm Kb,#Ot  
5, Z方向测量精度:60nm /Vy,6:$H3  
6,横向光学分辨率:2.6μm mH)th7  
产品应用: m?_@.O@]  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 c?XqSK`',Z  
:Co+haW  
联系人:刘蕊             联系方式:010-53203403       \\i$zRi  
       13933947304 _ pKWDMB$z  
15652958313 !p$k<?WXc  
网址:www.mnt-china.cn     微纳(香港)科技有限公司
分享到:

最新评论

我要发表 我要评论
限 50000 字节
关于我们
网站介绍
免责声明
加入我们
赞助我们
服务项目
稿件投递
广告投放
人才招聘
团购天下
帮助中心
新手入门
发帖回帖
充值VIP
其它功能
站内工具
清除Cookies
无图版
手机浏览
网站统计
交流方式
联系邮箱:广告合作 站务处理
微信公众号:opticsky 微信号:cyqdesign
新浪微博:光行天下OPTICSKY
QQ号:9652202
主办方:成都光行天下科技有限公司
Copyright © 2005-2025 光行天下 蜀ICP备06003254号-1