PS50型三维表面形貌仪

发布:universalpei 2014-05-20 14:28 阅读:993
产品简介: O^IS:\JX&  
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际领先的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。 gB0Q0d3\G,  
产品特性: TIxlLOs  
1,采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率 USH>`3  
2,测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高 `+(4t4@ew  
3,测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…); caZEZk#r;  
4,尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 ,irc=0M(  
5,不受样品反射率的影响 0G3T.4I  
6,不受环境光的影响 {'cdi`  
7,测量简单,样品无需特殊处理 sI@kS ^  
8,Z方向,测量范围大:为27mm BJjxy0+  
主要技术参数 R^rA.7T  
1,扫描范围:50×50(mm) n6{nx[%7N7  
2, 扫描步长:0.1μm /Q'O]h0a  
3,扫描速度:20mm/s )6 K)UA  
4, Z方向测量范围:27mm :-~x~ah-  
4, Z方向测量分辨率:2nm aZCxyoh+  
产品应用: a KIS%M#Y  
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发 |`Be(  
联系人:刘蕊             联系方式:010-53203403       'Me(qpsq  
       13933947304 wD SSgk  
15652958313 e r"gPW  
网址:www.mnt-china.cn     微纳(香港)科技有限公司
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