光开关应用于光分路器封装
目前国内有很多厂家采取生产上只测试两端和中间通道的方式提高效率,这样就会出现中间通道无法在生产过程中判断合格与否的问题。存在比较多的不确定因素,如光纤阵列的质量问题、环境问题和端面对齐问题等。 而采用光开关后,由于全部通道在封装过程中都检验,这样就排除了很多不确定因素,从而降低了次品率,还大大提高了效率。 输出端的构造 相对于输入端来说,输出端用于检验通道的时间更长,不确定因素也更多,很多时候,通过4通道检验的器件表面上可能是合格的,但是很可能会出现一个或几个通道不合格或者均匀性不合格等情况。如果在调节架上检验全部通道,又会消耗大量的时间。而如果在测试工位上完成检验,无法保证无风险并且增加了一个操作过程。 通过光开关的调节和带纤熔接机的使用可以降低风险和提高效率,本文主要是针对8个输出以上的光分路器。 |