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    [求助]求大神们不吝赐教,来西安联系我,我请客吃饭 [复制链接]

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    离线yuehanbing
     
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    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2014-02-18
    大家好,今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析,给光学系统设定自动重点采样后,在进行轴外杂散光追迹时,出现了一个 iKK=A.g  
    warning,具体内容如下: '0=U+Egp  
    importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, &B.r&K&  
    suppressing ray,use segments on importent sampling target。 ^*r${Nj  
    hT_snb;ow  
    不知道什么原因,还望大侠们解释一下,非常感谢,有空到西安,我请你们吃饭,谢谢   13379278577
     
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    离线蕴藉之身
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    只看该作者 10楼 发表于: 2014-02-27
    西安不错啊,光设同行不少! gPf aiVY  
    有没有武汉的啊
    离线稷下树
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    只看该作者 9楼 发表于: 2014-02-22
    西安光机所的吗
    离线yuehanbing
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    只看该作者 8楼 发表于: 2014-02-21
    回 wfn129 的帖子
    wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35)  `Y;gMrp  
    O}-7 V5  
    我是西光所的,以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题,我自己感觉可能是重点采 9/M!S[N9  
    样有点重复了,没办法,只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
    离线yuehanbing
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    只看该作者 7楼 发表于: 2014-02-21
    回 op-city 的帖子
    op-city:从提示来看,可能是自动重点取样设定的有问题。 (2014-02-19 16:20)  >X,Ag  
    Gi2ad+QH-  
    我是西光所得,以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题,我自己感觉可能是重点采 Rfc&OV  
    样有点重复了,没办法,只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
    离线yuehanbing
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    只看该作者 6楼 发表于: 2014-02-21
    我是西光所得,以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题,我自己感觉可能是重点采  LbX6p  
    样有点重复了,没办法,只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
    离线vurtne_000
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    只看该作者 5楼 发表于: 2014-02-19
    西安人还挺多啊,
    离线wfn129
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    只看该作者 4楼 发表于: 2014-02-19
    你是西安哪的
    离线op-city
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    只看该作者 3楼 发表于: 2014-02-19
    如果真是,记得请我吃饭
    离线op-city
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    只看该作者 2楼 发表于: 2014-02-19
    从提示来看,可能是自动重点取样设定的有问题。