大家好,今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析,给光学系统设定自动重点采样后,在进行轴外杂散光追迹时,出现了一个 iKK=A.g
warning,具体内容如下: '0=U+Egp
importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, &B.r&K&
suppressing ray,use segments on importent sampling target。 ^*r${Nj
hT_snb;ow
不知道什么原因,还望大侠们解释一下,非常感谢,有空到西安,我请你们吃饭,谢谢 13379278577