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    [求助]求大神们不吝赐教，来西安联系我，我请客吃饭 [复制链接]

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    离线yuehanbing
    实习生
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2014-02-18
    大家好，今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析，给光学系统设定自动重点采样后，在进行轴外杂散光追迹时，出现了一个 "ci<W_lx  
    warning，具体内容如下： e?D,=A4mV"  
    importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, ~:srm#IX  
    suppressing ray,use segments on importent sampling target。 (8(z42  
    3It'!R8$  
    不知道什么原因，还望大侠们解释一下，非常感谢，有空到西安，我请你们吃饭，谢谢   13379278577
     
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    离线pigpig
    工程师
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    只看该作者 1楼 发表于: 2014-02-19
    路过，学习下
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    离线op-city
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    只看该作者 2楼 发表于: 2014-02-19
    从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。
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    离线op-city
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    只看该作者 3楼 发表于: 2014-02-19
    如果真是，记得请我吃饭
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    离线wfn129
    高级工程师
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    只看该作者 4楼 发表于: 2014-02-19
    你是西安哪的
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    离线vurtne_000
    高级工程师
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    只看该作者 5楼 发表于: 2014-02-19
    西安人还挺多啊，
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    离线yuehanbing
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    只看该作者 6楼 发表于: 2014-02-21
    我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 .cZ&~ N  
    样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
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    离线yuehanbing
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    只看该作者 7楼 发表于: 2014-02-21
    回 op-city 的帖子
    op-city:从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。 (2014-02-19 16:20)  b?bYPN+  
    I?Zs|A  
    我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 ZK ?x_`w  
    样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
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    离线yuehanbing
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    只看该作者 8楼 发表于: 2014-02-21
    回 wfn129 的帖子
    wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35)  3opLLf_g  
    // }8HY)>  
    我是西光所的，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 |g7h#F~  
    样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。
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    离线稷下树
    技术员
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    只看该作者 9楼 发表于: 2014-02-22
    西安光机所的吗
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