[求助]求大神们不吝赐教，来西安联系我，我请客吃饭 [复制链接]

大家好，今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析，给光学系统设定自动重点采样后，在进行轴外杂散光追迹时，出现了一个 OKPJuV`y6  
warning，具体内容如下： }N,>A-P  
importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, m =k%,J_  
suppressing ray,use segments on importent sampling target。 ;J=:IEk  
. #U}q 7X  
不知道什么原因，还望大侠们解释一下，非常感谢，有空到西安，我请你们吃饭，谢谢   13379278577

路过，学习下

从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。

如果真是，记得请我吃饭

你是西安哪的

西安人还挺多啊，

我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 _hWuAJ9Qy  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

op-city:从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。 (2014-02-19 16:20)  W8< @sq~I  

w<Zdq}{jO  
我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采
ix:2Z-  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35)  -kWO2  

-L+\y\F  
我是西光所的，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 Kl4isGcr]  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

西安光机所的吗