[求助]求大神们不吝赐教，来西安联系我，我请客吃饭 [复制链接]

大家好，今天第一次用7.0版本的tracepro 做光学系统PST分析，给光学系统设定自动重点采样后，在进行轴外杂散光追迹时，出现了一个 ce;7  
warning，具体内容如下： On*I.~  
importance sampled ray flux greater than total scatter for 5 surface, F'K >@y  
suppressing ray,use segments on importent sampling target。 lUu0AZQmG  
AX v q
~XE  
不知道什么原因，还望大侠们解释一下，非常感谢，有空到西安，我请你们吃饭，谢谢   13379278577

路过，学习下

从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。

如果真是，记得请我吃饭

你是西安哪的

西安人还挺多啊，

我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 ;r2DQg"#@  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

op-city:从提示来看，可能是自动重点取样设定的有问题。 (2014-02-19 16:20)  _0[s]  

;t
N@  
我是西光所得，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 s'/_0  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

wfn129:你是西安哪的 (2014-02-19 18:35)  % y` tDR  

IjPtJwW`A  
我是西光所的，以前用 的5.0版本从来没有出现过这个问题，我自己感觉可能是重点采 WD8F]+2O\  
样有点重复了，没办法，只能把所有的重点采样面给取消了。这样就没有出问题了。

西安光机所的吗