Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         i
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 l5nm.i<M  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 (#BOcx5J]  
特点： w<u@L  
高分辨率（400*300） Van=dzG  
消色差功能 []G@l. ]W  
测量可重复性高 K;ocs?rk/  
对振动不敏感 G 2`hEX%  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 I7HGV(  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） EXsVZg"#  
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

n_(f"Uv   型号	hkOFPt&   采样数	D 63?f\   感光尺寸（mm²）	pJJO y   精度/动态范围	"R\D:Olb#   光谱范围	t?H sfN   采样速率
 7LB%7~{<   SID4	7 lSR   120×160	m.FN ttkM   3.6×4.8	N;a'`l   10nm RMS/100μm	#^tnRfS"   350-1100nm	`>GXJ~:D["   60fps
Aho-\9/x%   SID4UV-HR	>sZ_I?YDs   250×250	8)>4ZNXz   8.0×8.0	U]W"   10nm RMS/200μm	}USOWsLSt   190-400nm	MDZPp;\)   30fps
KGGnypx`   SID4 NIR	Uz=ol.E   120×160	rk47$36X   3.6×4.8	'w=aLu5dY   15nm RMS/100μm	N8DouDq   1500-1600nm	{Iz"]Wh<f   60fps
_S,UpR~2W   SID4-HR	_gEojuaN   300×400	$Wjx$fD   8.9×11.8	C~WWuju'   10nm RMS/500μm	n5#QQk2   400-1100nm	3a&HW JBSx   10fps
RXo6y(^   SID4 DWIR	uqD|j:~ =k   72×96	j`+{FCB7   10.08×13.44	5LZs_%#   75nm RMS	E:-~SH}   3-5μm&8-14μm	P4LiU2C   50fps
"YAnGGx)LZ   SID4 BIO	?M^qSo=/~   300×400	fCZ"0P3(   8.9×11.8	~ ~O4!|t   500μm	h/2@4XKj   350-1100nm	=:t<!dp   10Hz