Phasics波前分析仪

SID4系列波前测试仪的详细介绍                         hhylsm  
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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。 >[T6/#M  
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该波前传感器通过对最大400*300取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供精确的激光束分析功能。 w8>bct3@  
特点： PiR`4Tu  
高分辨率（400*300） B@\0b|  
消色差功能 [vY)y\W{  
测量可重复性高 SFsT^f<  
对振动不敏感 ^H<VH  
易于使用，Firewire IEEE1394接口 5y0LkuRR:  
结构紧凑（可用笔记本电脑控制） 6
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参数：      上海瞬渺光电技术有限公司  联系人：马忠华  联系电话：021-34635258  15618996225      邮箱：saleschina@rayscience.com

j.c4   型号	Cd p_niF   采样数	/dX,]OFm   感光尺寸（mm²）	+'` ^ N   精度/动态范围	T~}g{q,tR   光谱范围	zn*i   采样速率
J(XK%e[8   SID4	!a5e {QG0   120×160	X) [QEq^   3.6×4.8	=`gFwH<    10nm RMS/100μm	[vdC$9z,   350-1100nm	:NH'>'   60fps
2PSv3?".   SID4UV-HR	/h&>tYVio   250×250	yAel4b/}   8.0×8.0	E JaO"9 (   10nm RMS/200μm	&hhxp1B   190-400nm	Gh'{O/F4*   30fps
zq#gf   SID4 NIR	2fUz}w (   120×160	H{d/%}7[v   3.6×4.8	.M\0+,%/   15nm RMS/100μm	,}Ic($To   1500-1600nm	IifH=%2Y   60fps
R*O6Z"h   SID4-HR	<jVk}gi)Jp   300×400	o`ODz[04   8.9×11.8	JlH5 <:#PN   10nm RMS/500μm	-f(<2i   400-1100nm	jin?;v   10fps
`jDmbD +=   SID4 DWIR	-32.g\]   72×96	=1F F2#zS   10.08×13.44	q]*:RI?wGT   75nm RMS	><;.vP   3-5μm&8-14μm	umiD2BRZ   50fps
t4iV[xl3F   SID4 BIO	jZ69 sDhE   300×400	;|K(6)   8.9×11.8	S#7. y~e\   500μm	}KrZ6cG9#   350-1100nm	Wuji'sxTs   10Hz