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要如何使用倾斜的detector看到不同周期的干涉条纹 T.euoFU{Z
bG1 ofsU
这边有一个Michelson Interferometer, ;G$)MS'nB
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我试着调整DETECTOR的角度, 但它记录到的影像都一样, IgiqFV{
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照理来说调整DETECTOR角度的话干涉条文应该会一边粗一边细周期不一, K-Y*T}?
E#~2wqK
但我这里无法看到, QW:Z[?39^
HU.1":.;
请问该如何处理呢, 3 \9][S-B
I9s$bRbT
下面是程式 9e76pP(
c( 8W8R
--------------------------------------------------------------- Lj-{t% }
SYSTEM NEW Ty iU1, oO
RESET _PdAN= C3
gNi}EP5>
UNITS CENTIMETERS 0wYiu
WAVELENGTH 632.8 NANOMETERS n
K0hTQ
F_~6n]Sr
WL=632.8E-7 ma`w\8a
PI=4*ATAN(1) Cg?I'1]o6
FrgV@4'2G
COATING PROPERTIES Fj48quW1\P
0.0 0.0 'ABSORB' t-a`.y
0.0 1.0 'TRANSMIT' #s/{u
RYQ
1.0 0.0 'REFLECT' A<