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要如何使用倾斜的detector看到不同周期的干涉条纹 e|MyA?`
p2&KGtX'
这边有一个Michelson Interferometer, sSD(mO<(
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我试着调整DETECTOR的角度, 但它记录到的影像都一样, b55|JWfC`
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照理来说调整DETECTOR角度的话干涉条文应该会一边粗一边细周期不一, C(,s_Ks
#C>pA<YJzK
但我这里无法看到, E/s3@-/
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请问该如何处理呢, 'Fc&"(!||
gscsB4<
下面是程式 -'q=oTZ
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--------------------------------------------------------------- *^.b}K%
SYSTEM NEW E>'pMw
RESET Iv/yIS
&Puu Xz<
UNITS CENTIMETERS -h.YQC`
WAVELENGTH 632.8 NANOMETERS aL=VNZ!Pqc
}JlQQ
WL=632.8E-7 eyAg\uuih
PI=4*ATAN(1) /
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{v`wQM[
COATING PROPERTIES O
_1}LS!
0.0 0.0 'ABSORB' ,#WXAAmm
0.0 1.0 'TRANSMIT' 8o{ SU6pH
1.0 0.0 'REFLECT' r2sog{R
0.5 0.5 'BEAM_SPLITTER' 3`e1:`Hu
,vN#U&