2012.09.26(北京)TracePro于杂散光分析快速上手培训课程

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TracePro 针对各式成像系统提供完整的杂散光分析功能。本课程将完整介绍如何使用  :@%4  
TracePro 正确的仿真分析成像系统中的杂散光现象，并在课程中引入基本的TracePro Macro Scheme "NgxkbDEbG  
Language，帮助您可以快速的了解并使用TracePro 完成杂散光分析。 b
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课程主要针对光学设计从业人员，在课程结束后，能达到以下三方面的效果：能使用软件正确有效的设定模型的光学性质，计算和分析结果，对模型进行优化分析设计。 qjf[zF  
课程内容精彩丰富，相信透过深入浅出的教学方式，让您快速掌握TracePro于杂光分析与优化的要领！ TQx.KM>y  
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H2um|6>   时间	pcT:]d[1)   课程内容
09:00~10:20 (80分钟)	^j" .   杂散光分析： KnsT\>[K   1)     TracePro针对杂散光的分析   ]@uE#a:[   2)     TracePro 操作练习
10:30~11:50 （80分钟）	\RvvHty-V   TracePro中的模型分析： !1q 9+e   1)     ABg BSDF模型 5e$~) fL   2)     重点取样，点源辐照度透过率
12:00~13:00	~.UrL(l=   休息
13:00~14:20 (80分钟)	AgFVv5   实例 ： zgs(Dt;   1)     Lens Demo分析，并导入位图光源 \ C+(~9@|   2)     导入BSDF数据，建立ABg模型
14:30~15:50 (80分钟)	Hm$=h>rY9[   1)     重点取样例子：手动，自动 A j2OkD   2)     衍射例子 ,`gl&iB   3)卡塞格伦望远镜例子
16:00~17:20 (80分钟)	=0G!f$7^i   1)     宏记录器的使用 hRty [   2)     scheme的编程使用 .G+Pe'4a   3)     Q&A

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报名详情请参照: http://www.apic.com.cn/shownews.asp?id=112 :,J}z~I,lB  
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请填好此表传真至021-64052327或e-mail: candy@apic.com.cn