提供以色列DUMA公司光斑位置测试仪 光斑能量分析仪

发布:82851981 2012-01-20 15:31 阅读:2889
提供以色列DUMA公司光斑位置测试仪 光斑能量分析仪 w>B}w  
光束质量分析,光斑位置分析,光斑位置测试,光斑能量测量,光斑能量分布测量 vhF9|('G  
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顶尖科仪是以色列DUMA光学公司在中国的制定代理商,DUMA光学专业生产各类激光测试设备,主要包括激光光束定位系统、光束分析系统、多通道功率计和视频显微镜测量成像系统。 具体产品线有:光束位敏与功率测量系统 、激光功率及位置测量系统、光束角辐射强度分析仪器、连续激光M2因子探测系统 、连续光束多通道光功率探测系统 、光束位置和角位移探测系统 、快速光束位敏探测系统 8通道激光功率探测系统 、连续和脉冲光束显微分析仪。 !/,oQoG  
顶尖科仪为DUMA公司中国区授权代理商,供应 提供 出售 求购 代理 分销 代理商 经销商。顶尖科仪 深圳办事处 先生 Tel 86614815 Mob 18938945201 QQ 121206359Email: ygliu@psci.cn更多详细介绍:http://blog.sina.com.cn/u/1934278092 {|oWU8.l  
f(y+1  
Spot on 系列光斑位置测量仪 P7w RX F{  
光斑测试仪、光斑能量分布测试仪、光束直径测试仪。 $]LS!@ Rm  
主要特点: R([zlw~B5  
◆精度高:1 微米准确度,亚微米级分辨率。 -L/%2 X  
◆应用灵活:可测位置和功率;3 种内置卡可选;多种探头类 H|aFs.SEQ  
型和尺寸。 %fg6', 2  
◆使用方便:安装简单,软件界面友好,可在多种windows <Z.`X7]Uk  
作系统下使用。 .'=S1|_(  
DUMASpotOn Analog USB光斑位置测试仪具有非常高的测试精度,对于9×9mm&sup2;的PSD,位置分辨率为1μm,最高可保证达到0.2μm,对于4×4mm&sup2;的PSD,位置分辨率为0.5μm,最高可保证达到0.1μm。对于0.8mmHe-Ne激光光束,位置测量的精确度可达25μm |-ZML~2S=h  
SpotOn USB2.0SPOTCCD-VIS Il&F C  
SPOTANA-9SPOTANA-4SPOTANA-ERSPOTANA-9-USB-HighSPOTANA-9-USB-LowSPOTANA-4-USB-High: SPOTANA-4-USB-LowSPOTANA-ER-USB T8m]f<  
NG4NG9NG10 = 9Yf o,F  
IN/$b^Um  
Alignmeter 系列准直仪和Anglemeter 系列角度测量仪 V<5. 4{[G  
主要特点: 3u j|jwL  
◆精度高:1 微米位置分辨率,0.01mrad 角分辨率。 #U-y<[ 3  
◆测量对象:连续光束。 "3VX9{'%@  
◆使用灵活:PCI/PCMCIA/ISA 三种内置卡可选;根据应用,选配不 fBh"  
焦距透镜下的不同的探头;可测量位置,角度和功率。 oO;L l?~  
d3znb@7  
Collimators 自动校准仪 3PkZXeH/  
主要特点: jvQ^Vh!mC  
◆在实验室和实际应用的自动对准方面,精度和性价比都很高。 $W|JQ h  
◆通过USB 2.0 接口,把个人电脑变成强大的测量工具。 koT3~FK  
g#i~^4-1  
Beam Analysis 系列光束质量分析仪 M平方仪 M&sup2;仪 9gA@D%0  
包括BeamAnalyzer M2Beam 等光束质量分析仪器。可用CCD 获取高分辨率的激光光强分布曲线,以获得光束直径,波形,位置,光强等参数。也可用刀口法获得束腰尺寸位置,发散角,光强分布曲线,M2 和功率等参数。  B=*0  
CE M4E  
Power Meters 系列功率计 jUE:QOfRib  
主要特点: cS Lj\'`b  
◆简单实用,可用于激光的实时控制。 n=j) M  
◆最多可同时联接8 个探头。探头类型多样:Si 紫外增强,InGaAs Yp(0XP5o  
◆每个通道1KHz 的响应带宽。 g5#LoGc  
◆配置多样,可选ISA / PCI / PCMCIA 等内置卡或者独立配置。 J t.<Z&  
◆响应光谱范围宽,从深紫外到近红外都可探测。 7[=G;2<  
◆高达1nW 的精度。 ZN H-0mk  
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Machine Version 系列可视显微测量仪 !Fs$W  
Video Microscope 可用于电子学和光学领域的测量和监控。 k% \;$u=%  
自动对焦,和自动校正使其能很方便的用于距离,圆周和弧度 o`,}b1lh  
的测量。 vKnZ==B  
A'CD,R+gR  
`ZL^+h<b>M  
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