提供以色列DUMA公司光斑位置测试仪 光斑能量分析仪

发布:82851981 2012-01-20 15:31 阅读:2746
提供以色列DUMA公司光斑位置测试仪 光斑能量分析仪 CGvU{n,"  
光束质量分析,光斑位置分析,光斑位置测试,光斑能量测量,光斑能量分布测量 7a 4G:  
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顶尖科仪是以色列DUMA光学公司在中国的制定代理商,DUMA光学专业生产各类激光测试设备,主要包括激光光束定位系统、光束分析系统、多通道功率计和视频显微镜测量成像系统。 具体产品线有:光束位敏与功率测量系统 、激光功率及位置测量系统、光束角辐射强度分析仪器、连续激光M2因子探测系统 、连续光束多通道光功率探测系统 、光束位置和角位移探测系统 、快速光束位敏探测系统 8通道激光功率探测系统 、连续和脉冲光束显微分析仪。 ]Ow A>fb  
顶尖科仪为DUMA公司中国区授权代理商,供应 提供 出售 求购 代理 分销 代理商 经销商。顶尖科仪 深圳办事处 先生 Tel 86614815 Mob 18938945201 QQ 121206359Email: ygliu@psci.cn更多详细介绍:http://blog.sina.com.cn/u/1934278092 Hj"`z6@7  
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Spot on 系列光斑位置测量仪 sF}T9 Ue  
光斑测试仪、光斑能量分布测试仪、光束直径测试仪。 8@ck" LUzD  
主要特点: !T02@e/  
◆精度高:1 微米准确度,亚微米级分辨率。 Au08k}h<G  
◆应用灵活:可测位置和功率;3 种内置卡可选;多种探头类 yhg^1l|t,  
型和尺寸。 'ek7e.x|V  
◆使用方便:安装简单,软件界面友好,可在多种windows hl?G_%a  
作系统下使用。 Zo}wzY~x>I  
DUMASpotOn Analog USB光斑位置测试仪具有非常高的测试精度,对于9×9mm&sup2;的PSD,位置分辨率为1μm,最高可保证达到0.2μm,对于4×4mm&sup2;的PSD,位置分辨率为0.5μm,最高可保证达到0.1μm。对于0.8mmHe-Ne激光光束,位置测量的精确度可达25μm  Hrm^@3  
SpotOn USB2.0SPOTCCD-VIS }$r/#F/Fn  
SPOTANA-9SPOTANA-4SPOTANA-ERSPOTANA-9-USB-HighSPOTANA-9-USB-LowSPOTANA-4-USB-High: SPOTANA-4-USB-LowSPOTANA-ER-USB V9f$zjpw  
NG4NG9NG10 h^ea V,x>=  
Q1?  !,a  
Alignmeter 系列准直仪和Anglemeter 系列角度测量仪 H->J.5~,K  
主要特点: Zoh[tO   
◆精度高:1 微米位置分辨率,0.01mrad 角分辨率。 GV'Y'  
◆测量对象:连续光束。 v<N7o8  
◆使用灵活:PCI/PCMCIA/ISA 三种内置卡可选;根据应用,选配不 NL%5'8F>,  
焦距透镜下的不同的探头;可测量位置,角度和功率。 E'zLgU)r`  
XhjH68S(  
Collimators 自动校准仪 #Q}`kFB`  
主要特点: LO0<=4iN(  
◆在实验室和实际应用的自动对准方面,精度和性价比都很高。 ^=@L(;Y  
◆通过USB 2.0 接口,把个人电脑变成强大的测量工具。  2bwf(  
zts%oIgV  
Beam Analysis 系列光束质量分析仪 M平方仪 M&sup2;仪 HTuv_kE  
包括BeamAnalyzer M2Beam 等光束质量分析仪器。可用CCD 获取高分辨率的激光光强分布曲线,以获得光束直径,波形,位置,光强等参数。也可用刀口法获得束腰尺寸位置,发散角,光强分布曲线,M2 和功率等参数。 'H- : >'k  
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Power Meters 系列功率计 Lgl%fO/<t  
主要特点: H@o 3u>}  
◆简单实用,可用于激光的实时控制。 ;:NW  
◆最多可同时联接8 个探头。探头类型多样:Si 紫外增强,InGaAs 0w}OE8uq  
◆每个通道1KHz 的响应带宽。 +x$GwX  
◆配置多样,可选ISA / PCI / PCMCIA 等内置卡或者独立配置。 qV2aa9p+  
◆响应光谱范围宽,从深紫外到近红外都可探测。 o8c4h<,  
◆高达1nW 的精度。 [`^5Zb  
6jT+kq)  
Machine Version 系列可视显微测量仪 ;2 -%IA,  
Video Microscope 可用于电子学和光学领域的测量和监控。 !2>MaV1,  
自动对焦,和自动校正使其能很方便的用于距离,圆周和弧度 X}C }  
的测量。 ` MtI>x c  
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