日本研发出超精密尺子可测量纳米级别的尺寸

发布:cyqdesign 2010-12-21 12:22 阅读:2759
日本关西学院大学一个研究团队宣布,他们研发出一种超精密尺子,可用于测量纳米级别的尺寸。 iE}jilU  
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这个团队来自关西学院大学理工学系。他们研制的这种尺子以硬度仅次于钻石的碳化硅为主要材料。碳化硅质地坚硬,很难加工,研究人员为此专门开发出一种新的加工技术。他们把碳化硅放入超真空环境中加热到约2000摄氏度,再对其表面进行切削。 8Rq+eOP=S  
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采用这一加工技术,研究人员成功使碳化硅材料表面形成了阶梯状构造,阶梯的每级“台阶”为0.5纳米,相当于尺子的一格刻度。据介绍,研究人员还能把“台阶”的高度做成0.76纳米和1纳米。 xwxMVp`|o  
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研究人员表示,这种超精密尺子可广泛应用于超精密仪器、计算机中央处理器、大规模集成电路等诸多涉及纳米技术的领域。新型尺子的耐腐蚀性也比传统的硅制精密尺子更胜一筹。
关键词: 尺子纳米仪器
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最新评论

user_test 2010-12-21 12:27
嘿嘿  日本确实很牛逼
若雪霏寒 2010-12-21 13:27
厉害  厉害~~~
f117john 2010-12-21 20:43
中国人要加油了!
tassy 2010-12-22 00:41
努力就会有回报!
susanliukun 2010-12-22 13:53
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