供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 :8b{|}aYV  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 /ivcqVu]  
主要性能指标及技术指标 VuA7rIF$66  
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主信号通道： ^hq+ L^$^  
信号输入方式：单端交流输入 "%fh`4y3\  
输入量程：0.5mV-500mV "1O!Ck_n  
信号频率范围:1KHz±5% hhd%j6  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) ;6S,|rC]  
性误差: ≤0.1% ]-[M&i=+&  
零点时源： ≤0.2%/h 8*7t1$  
参考信号通道： R<.<wQ4I  
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信号输入方式：单端交流输入 m,}0p  
输入幅度：20-700mV ]v^/c~"${  
频率范围:≥320。  gGF]Dq