供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 9:jZ3U  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 S
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主要性能指标及技术指标 9b*1-1
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主信号通道： dLI`\e<r&[  
信号输入方式：单端交流输入 rnCu=n  
输入量程：0.5mV-500mV 9oA
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信号频率范围:1KHz±5% k,nRC~Irh  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) &-1;3+#w  
性误差: ≤0.1% Nm]\0m0p-  
零点时源： ≤0.2%/h _K"X  
参考信号通道： jNA^ (|:  
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信号输入方式：单端交流输入 ^04|tda  
输入幅度：20-700mV y*5bF0  
频率范围:≥320。 y-c2tF@'v  

图片:膜厚控制仪111111.jpg