供应新型光学膜厚控制仪

CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪 u+uu?.bM  
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CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有极强的抑制能力。 ,<?M/'4}G  
主要性能指标及技术指标 ?GKm_b]JC  
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主信号通道： &:)e  
信号输入方式：单端交流输入 #n}n %  
输入量程：0.5mV-500mV )d-
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信号频率范围:1KHz±5% f^X\N/  
本机频相噪声:≤4nV/Hz(折合到输入端) MOW {g\{\  
性误差: ≤0.1% 9CTvG zkw  
零点时源： ≤0.2%/h \:wLUGFl5  
参考信号通道： W'9=st'  
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信号输入方式：单端交流输入 -d6*
M*{|  
输入幅度：20-700mV `+0)dTA(g$  
频率范围:≥320。 da&f0m U  

图片:膜厚控制仪111111.jpg